数显薄膜测厚仪-js555888金沙

功能用途：主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特数显薄膜点。
技术指标：
1.测量范围：（0-25）mm
2.分辨率：0.001mm 
3.电源：氧化银电池sr44 
4.工作温度：0℃～ 40℃ 
5.储运温度：-20～ 70℃
6.相对湿度：≤80%